PT-930

12英寸全自動探針臺

國內首款量產型12英寸高精度全自動探針臺，適用于8~12英寸集成電路及功率器件等芯片的測試

高低溫定制系列

高低溫全自動探針臺

適用于8-12英寸集成電路晶圓的自動探針測試。整機特別針對集成電路多芯多探針及高定位精度的測試需求進行設計，可以滿足2000根探針以下的單芯或多芯測試，配備全自動上下片系統，具有高精度、高剛性，高穩定性的特點；自動對針提高了對準精度，方便客戶多針、多芯測試需要；面板可翻轉，方便維護；搭載大尺寸的磨針臺，適應不同的磨針方式，多樣化的定制功能

PT-9200

8英寸全自動探針臺

適用于5～8英寸集成電路晶圓的自動探針測試。整機特別針對集成電路多芯多探針及高定位精度的測試需求進行設計，可以滿足2000根探針以下的單芯或多芯測試，配備全自動上下片系統，具有高精度、高剛性，高穩定性的特點；自動對針提高了對準精度，方便客戶多針、多芯測試需要

PT-920B

8英寸全自動探針臺

適用于5～8英寸集成電路晶圓的自動探針測試。整機特別針對集成電路多芯多探針及高定位精度的測試需求進行設計，可以滿足1000根探針以下的單芯或多芯測試，配備全自動上下片系統，具有高精度、高剛性，高穩定性的特點。自動對針提高了對準精度，方便客戶多針、多芯測試需要

PT-903II

8英寸全自動探針臺

適用于4～8英寸半導體集成電路、分立器件晶圓的全自動探針測試。配備有高可靠性自動上下片系統，高精度CCD視覺定位系統，自動化程度高。更具有薄片傳輸能力，應用面廣，尤其滿足大功率分立器件（IGBT、MOSFET）測試

PT-306

6英寸半自動探針臺

適用于4、5、6英寸集成電路和分立器件的自動測試，搭載 CCD 視覺系統，自動掃描、定位操作，真正做到“一鍵測試”

L-11DM-PM

倒裝LED測試一體機

采用專利技術的針動機構，搭載先進的驅動方式，高精度的視覺定位系統，測試行程兼容 6 英寸芯片，可完成 4 英寸擴張 1.2 倍晶圓的自動測試

L-10MC-W4

正裝LED測試一體機

本設備適用于大圓片抽測或分選后BIN回測工藝段，可滿足正裝4、6英寸LED 已切割晶圓的自動測試

L-10MC-PM

正裝LED測試一體機

本設備適配COT工藝，可滿足 4~6 英寸 LED 晶圓及晶粒測試

L-11MC

正裝LED測試一體機

應用于芯粒級LED正裝芯片全測的多通道針卡測試一體機

L-915

正裝LED測試一體機

本設備適配COW、WAT工藝，可滿足4~6英寸正裝LED未切割晶圓的自動抽測

L-12DM

倒裝LED測試一體機

應用于芯粒級LED倒裝芯片光電全測的多通道針卡測試一體機

GK-120

全自動曝光機

該機型可按照二極管芯片廠家需求定制，滿足4、5、6英寸Wafer的一次曝光

GK-150

全自動曝光機

矽電全新推出的全自動曝光機，可按照二極管芯片廠家工藝設計需求進行定制，滿足4寸、5寸晶圓在同一機臺上進行一、二、三次光刻的工藝處理需求。批量自動化設計，配備輸入、輸出料盒各四個；雙工位并行滿足曝光和對準上片同步 進行。

AS-20

全自動晶圓光學鏡檢機

適用于 Wafer/Frame 的外觀缺陷檢測。配置先進的光學系統，搭載多道光組合檢測，結合 AI 算法檢測模型，可以精確識別晶圓表面常見缺陷。分布式計算系統為檢測提供超高算力。

SE-A7

全自動LED芯片分選機

本設備根據芯片測試機獲得的光電參數以及外觀檢測結果進行分類，按照分類結果將芯片綁定到不同BIN承載盤上，可以實現芯片的自動掃描、合檔、接續、分類和自動上下料，并生成生產管理所需的數據報表，廣泛應用于LED芯片、LED封裝體、5G光芯片、PD模組、光敏元件、半導體芯片的分類挑揀